IC微开短路测试系统IC-TEST SYSTEM-N2/N4
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IC-TEST SYSTEM-N2/N4是Comshare针对芯片管脚微损伤的检测需求而开发的一款半导体电性能测试项系统。功能特点(Function and specialty)：
★ 可同时控制与量测高精度电压、电流，专为消费性电子产品、
IC设计与验证、学术研究等实验室提供电性能测试；
★ 最小电流精度：100pA，最小电压精度：100uV；
★ 电压输出范围：±10V，电流输出范围：±100mA；
★ 专为LCM行业优化；
★ 输出灵活可配，具有四象限输出；
★ 用户自定义快速扫描IV曲线，可根据IV曲线的差异自动定位IC微损伤；
★ 可弹性扩充通道数：支持64通道、128通道、256通道、512通道等；
★ 支持标配一拖二、扩展一拖四等配置，LCM全通道测试时间小于2s；
适用范围( Using field)：
TP-TESTER广泛应用于手机、智能穿戴、平板、车载屏等产业链的触控IC、FPC的烧录、测试和SENSOR、TP的测试，适用于GFF、OGS、COB、ONCELL、INCELL、TDDI、AMOLED。
